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X 射线荧光测试仪

【型  号】XDV -μ
【品  牌】德国菲希尔Fischer
【价  格】洽询
X 射线荧光测试仪XDV -μ
【主要技术指标】可以对100μm或更小的结构进行分析
【详细技术指标】

X 射线荧光测试仪,涂层测厚仪的保养,配有多毛细孔 X 射线光学系统,果欧涂层测厚仪,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。


XDV-u镀层厚度测量仪特点

  • 优化的微区分析测试仪器
  • 根据X射线光学系统,铁基涂层测厚仪,可以对100 μm或更小的结构进行分析
  • 极高的能量强度,fisher涂层测厚仪,从而实现出色的精度
  • 即使对于薄镀层,德国思创涂层测厚仪,测量的不确定度也有可能做到 < 1 nm
  • 只适用于平面的或是接近平面的样品
  • 底部C型开槽的大容量测量舱
  • 通过快速、可编程的 XY 工作台进行自动测量

XDV-u镀层厚度测量仪典型应用领域

  • 测量印刷线路板、引线框架和芯片上的镀层系统
  • 测量细小部件和细电线上的镀层系统
  • 分析微小结构和微小部件的材料成分


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